2チップ対応レーザテスター

LDtester  YLT7600S

【概 要】

2チップ対応レーザーテスターは、各種レーザーダイオードの電気的、光学的特性を自動で測定する装置です。サンプルを手動で試料台にとりつけ後は、測定項目ごとに自動で計測ステージが移動し、各特性の測定データを取得します。 測定データは付属のPCでファイル化され、ユーザーの用途に応じた統計処理が可能です。

2チップ対応レーザテスター
2チップ対応レーザテスター01
2チップ対応レーザテスター02

1 テスト対象物

被測定物:
レーザーダイオード(LD)及び モニター用フォトディテクタ(PD)2チップ対応
品 種:
フレームレーザ(1chip)、1.8tフレームレーザ(1,2chip)、3.3Φ(1chip)、5.6Φ(高出力、単一電源、二電源、2chip)
    ※オプションでホログラムレーザ対応

1.2 テスト項目

  項 目 測定ステージ 測定内容
1 If-Po特性 I-L 光出力(Po)-順方向電流(If)特性
2 If-Vf特性 I-L 順方向電圧(Vf)-順方向電流(If)特性
3 Po-Im特性 I-L PD電流(Im)-光出力(Po)特性
4 ドループ特性 I-L LDをパルス駆動させた場合の光出力減衰率
5 LD,PD順電流 I-L 光出力に対する順電流
6 LD,PD逆電流*1 I-L 光出力に対する逆電流
7 PD順電圧 I-L 順方向電流に対するPDの順電圧
8 λ特性 λ 放射光のスペクトル
(光スペクトラムアナライザ使用)
9 偏光比特性 偏光比 偏光の平行ベクトルと垂直ベクトルの比率

 *1 LD,PD逆電流測定(微少電流測定)はオプション対応となります。

2 測定回路システム構成

測定回路システム構成

1)LD・PD 駆動回路

試料ステージに付属し、LD、PDに電流、電圧をCW、パルスにて印加するユニット

1-1 電流駆動回路(LDのみ)
パルス幅
500 ~2000μsの範囲、100 μs単位で設定(ドループ測定)
レンジ2段階
-300 ~ +300mA  精度 ±1% of reading 5 digit
-600 ~ +600mA  精度 ±1% of reading 5 digit
調整段階
±300000 (±15bit)
印可電圧
MAX10.0V(at600mA時)

0設定でOpen、(-)設定で負電流回路、(+)設定で正電流回路に電気的にスイッチ

パルス発生時 Droop測定用 timing信号発生

1-2 電圧印加回路( LD, PD双方)
レンジ
-40 ~ +40 V 精度 ±2% of reading 5 digit
調整段階
±200000 (±15bit)

0設定でGND、(-)設定で負電圧回路、(+)設定で正電圧回路に電気的にスイッチ

1-3 電流印加回路( PDのみ)
レンジ
-2000 ~ +2000 uA
調整段階
±200000 (±15bit)

0設定でOpen、(-)設定で負電流回路、(+)設定で正電流回路に電気的にスイッチ

2)LD・PD測定回路

試料ステージに付属、LD、PDの電圧・電流測定を行うユニット。
2-1 電流測定回路 (LD、PDとも)
レンジ2段階
-200 ~ 200uA 精度 ±1% of reading 5 digit
-2000 ~ 2000 uA 精度 ±1% of reading 5 digit
16bit AD 使用
±を感知して、正測定、負測定を電気的にスイッチ
2-2 極微小電流測定回路 (LD、PDとも)
レンジ
-200nA ~ +200 nA
16bit AD 使用
センサーの直近に配置し、絶縁基板使用・回路部分全体にシールドを施す。
±を感知して、正測定、負測定をリレーで切り替え
2-3 電圧測定回路 (LD、PDとも)
レンジ2段階
-10 ~ +10 V  精度 ±1% of reading 5 digit
-40 ~ +40 V 精度 ±1% of reading 5 digit
16bit AD 使用
±を感知して、正測定、負測定を電気的にスイッチ

3)光センサー回路

FFP-H、FFP-V、偏光比、I-Lの4系統の光センサーの信号を入力、光の強度を計測するユニット。
センサー
浜松ホトニクス製 SiPINフォトダイオード S2744
レンジ2段階
0 ~ 30mW 精度 ±1% of 5 digit  (電気的精度)
       0 ~ 300mW 精度 ±1% of 5 digit  (電気的精度)
       12 bit AD 使用
測定系全体の精度は、繰り返し測定の精度が±1%、光強度の精度が±5%

4)光スペクトラムアナライザ

光ファイバーにてLDから受光、光波長特性を計測する。
アドバンテスト社製 Q8341または相当品を使用予定
コヒーレンス測定分解能:
0.001mm
波長分解能(@650nm):
0.05nm(標準)
ピーク波長読取り分解能:
0.001nm
波長測定確度:
±0.05nm(標準)
コヒーレンス測定距離:
最大約10mm(標準)

5)温度制御回路

試料ステージに付属、ペルチェ素子による試料温度制御を行うユニット。
設定範囲
+20 ~100 ℃
設定単位
0.1℃
制御精度
±2℃

6)CPU-I/F回路

RS485、またはGP-IBの信号より命令をデコード、各回路基板にシリアルで命令を転送するユニット。

3. 測定仕様

3.1 I-Lステージ 測定項目

No 記号 項目名 単位
1 IfLD1,2 LD1, LD2順電流 μA
2 LDleak LD1 , LD2チップ間リーク μA
3 IfPD PD順電流 μA
4 Vnr1_1,2 LD1, LD2 負性抵抗落ち込み最大電圧 V
5 Vnr2_1,2 LD1, LD2 負性抵抗 ⊿V/⊿i Ω
6 Vim1 指定電流時PD順電圧 V
7 Vim2 指定電流2点間のPD順電圧差 V
8 RdPo_1,2 LD1, LD2 2点パワー指定微分抵抗 Ω
9 RdI_1,2 LD1, LD2 2点電流指定微分抵抗 Ω
10 Iop1,2 LD1, LD2 指定光出力時のLD動作電流 mA
11 Vop1,2 LD1, LD2指定光出力時のLD動作電圧 V
12 Imop1,2 LD1, LD2 指定光出力時のPD電流 Ma
13 Ith1,2 LD1, LD2 閾値電流 mA
14 Pth1,2 LD1, LD2 Ith時の光出力 mW
15 Vth1,2 LD1, LD2 Ith時の電圧 V
16 Eta1,2 LD1, LD2 微分量子効率 W/A
17 LKink1,2 LD1, LD2 キンク率 %
18 Pmax1,2 LD1, LD2 最大パワー mW
19 Imax1,2 LD1, LD2 最大パワー時の電流値 mA
20 mKink1,2 LD1, LD2 電流カーブの相関係数 -
21 LDIr1,2 LD1, LD2 逆電流 μA
22 Idark PD逆電流 nA
23 Droop1,2 LD1, LD2 ドループ %

3.2 FFPステージ 測定項目

No 記号 項目名 単位
1 Thv1,2 LD1,LD2指定光出力時の半値全角 垂直方向(Gauss, Smooth) deg
2 Thh1,2 LD1,LD2指定光出力時の半値全角 水平方向(Gauss, Smooth) deg
3 Phv1,2 LD1,LD2指定光出力時の光軸ずれ 垂直方向(Gauss, Smooth) deg
4 Phv1,2 LD1,LD2指定光出力時の光軸ずれ 水平方向(Gauss, Smooth) deg
5 Rpv1,2 LD1,LD2 指定光出力時リップル 垂直 deg
6 Rph1,2 LD1,LD2 指定光出力時リップル 水平 deg
7 Rmv LD1,LD2 リム 垂直 deg
8 Rmh LD1,LD2 リム 水平 deg

3.3 λステージ 測定項目

No 記号 項目名 単位
1 Lp1,2 LD1,LD2 指定光出力時 ピーク波長 nm
2 WLp1,2 LD1,LD2 指定光出力時 波長幅 nm
3 GamP1,2 LD1,LD2 指定光出力時 第1ピークと第2ピークの比 -
4 Beta1,2 LD1,LD2 指定光出力時 第1ピークと第2ピークの比 -

3.4 偏光比ステージ 測定項目

No 記号 項目名 単位
1 Pol1,2 LD1,LD2 指定光出力時 最小偏光ずれ角 deg
2 Poh1,2 LD1,LD2 指定光出力時 最大偏光ずれ角 deg
3 PhPIP1,2 LD1,LD2 指定光出力時 最大偏光値と最小偏光値の比 -
4 PI1,2 LD1,LD2 指定光出力時 最小偏光パワー mW
5 PrvhP1,2 LD1,LD2 指定光出力時 90°偏光値と180°偏光値の比 -
6 Poh1,2 LD1,LD2 指定光出力時 最大偏光ずれ角 deg

その他、各種数値・データ、実績などに関しましてはホームページまたはお電話にてお気軽にお問い合わせください。

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