ＬＤパルス応答特性検査システム
LASER DIODE TEST SYSTEM
【概 要】
本装置はレーザー素子の高周波帯域での応答性能を検査し、予め設定された条件により判定し、自動的に分類するものです。 試験方法は0mAから任意に設定された電流値まで連続して電流を印加し、その間にある指定光パワーを発光させるに必要な電流値を求め検査パルスを発生させます。検査パルスは10uS-Pulseと※nS-Pulseで、これを比較して予め設定された上下限で良否判定を自動で行うものです。 （※nS ＝ 3 , 6 , 12 , 24 , 48 , 96 , nSより選択） |
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試験動作（※Po = 光パワー）
■ＬＤ出力波形（検査中）
ピックアップ部
光計測部／温調部(+10～100℃)
測定ヘッド部周辺
収納側分類トレー部周辺
■温調機能
本装置は測定部にベルチェモジュールを搭載しておりLDを測定する際の試験温度を任意に設定する事が可能です。温度設定範囲は+10～100℃です
■対象ＬＤ
| 発光波長 | λ＝350～900nm （※紫外～赤外LDまで対応） |
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| 極 性; | カソードコモンタイプ アノードコモンタイプ フローティングタイプ |
| ＬＤ種類 | シングルビーム(1chip-type) マルチビーム(2chip-type) ４ビーム(4chip-type) 他 |
| 形 状 | Φ5.6mm CAN 他 |
| 最大定格 | 電圧(V) = 7.5V 電流(I) = 350mA 光パワー(Po) = 30mW |
■計測パルス仕様
| 基準パルス幅 | 10uS Duty50% |
|---|---|
| 試験パルス幅 | 3nS－T倍（基準は24nSを使用） |
基準パルスのOFF中央部に3nS逓倍の試験パルスを発生させ、それぞれのパルスの測定値から面積比を求め判定します。
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山勝電子工業株式会社
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